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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機雙用單站測試分類機適用於終端測試或系統(tǒng)功能測試自動進料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動分類的功能測頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊智能型的載盤IC殘留偵測可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實驗設(shè)備機
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機
主要特色:
3110 是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類 機,支援各種不同類型封裝的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機運用 Pick & Place 技術(shù), 將待測晶片由進料艙 移至測試區(qū),再依測試結(jié)果進行分類。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測,也同時具備終端電性測 試的能力??删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試程式,旨在提供一個全能的解 決方案。
支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm,配備有 自動進出料分類艙及手動分類盤,可蕞優(yōu)化工程 測試的實驗數(shù)量。簡易操作的操控畫面,及適配 性高的testers連接介面,大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外,它能針對不同的測試環(huán)境 條件,提供數(shù)個溫控系統(tǒng)的選擇,如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等,測試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫。
三溫變溫控制
主動熱控模組 (ATC)
高解熱溫控模組 (PTC)
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Model | Description | 詢價 |
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3110 | 雙用單站測試分類機 |
致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機