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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機
雙用單站測試分類機
適用於終端測試或系統(tǒng)功能測試
自動進料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動分類的功能
測頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實驗設(shè)備機

產(chǎn)品型號:3110
更新時間:2023-12-25
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1053
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子

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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機

主要特色:

  • 雙用單站測試分類機
  • 適用於終端測試或系統(tǒng)功能測試
  • 自動進料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動分類的功能
  • 測頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
  • 智能型的載盤IC殘留偵測
  • 可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
  • 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
  • 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實驗設(shè)備機,可自動蒐集與分析測試、實驗結(jié)果的數(shù)據(jù)

3110 是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類 機,支援各種不同類型封裝的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機運用 Pick & Place 技術(shù), 將待測晶片由進料艙 移至測試區(qū),再依測試結(jié)果進行分類。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測,也同時具備終端電性測 試的能力??删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試程式,旨在提供一個全能的解 決方案。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm,配備有 自動進出料分類艙及手動分類盤,可蕞優(yōu)化工程 測試的實驗數(shù)量。簡易操作的操控畫面,及適配 性高的testers連接介面,大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外,它能針對不同的測試環(huán)境 條件,提供數(shù)個溫控系統(tǒng)的選擇,如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等,測試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫。

溫控解決方案

三溫變溫控制

  • Temperature accuracy : ± 2℃
  • Device temperature feedback (Thermocouple/RTD/Thermistor)
  • PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
  • PWM TE Power Control
  • Die force control
  • Modularized dry air chamber
  • Water chiller
  • Dry air supplier

主動熱控模組 (ATC)

  • Temperature accuracy : ± 2℃
  • Test arm all in one
  • Device temperature feedback
  • PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
  • PWM TE Power Control
  • Die force control
  • Closed-loop cooling system (no external piping)
  • Chamber-less

高解熱溫控模組 (PTC)

  • Temperature range : < 85 ℃ (up to 300W dissipation)
  • Closed-loop cooling system (no external piping)
  • Test arm all in one
  • Die force control
  • Neither water chiller nor dry air supplier

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3110雙用單站測試分類機

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